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便携式测厚仪LS221测量原理介绍

发布:2020年07月18日编号:2056-1134850
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详细描述

  一、磁感应测量原理介绍

  林上LS221便携式测厚仪https://www.linshangtech.cn/tech/tech1367.html)就是采用磁性测厚法与涡流测厚法的原理制成的仪器www.xbaixing.com。采用磁感应原理时,利用从测头通过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小,来测定覆层厚度。也能够测定与之对应的磁阻的大小,来表示其覆层厚度原文www.xbaixing.com。覆层越厚,则磁阻 越大,磁通越小。利用磁感应原理的测厚仪,原则上能够有导磁基体上的非导磁覆层厚度欢迎www.xbaixing.com。一般要求基材导磁率在500以上。如果覆层资料也有磁性,则要求与基材的导磁率之差足够大(如钢上镀镍)小+百+姓+网。当软芯上绕着线圈的测头放在被测样本上时,仪器主动输出测试电流或测试信号。

  林上LS221便携式测厚仪参数:

  测量原理      Fe:霍尔效应/NFe:电涡流效应

  探头类型      外置连线式

  测量范围      0.0-2000μm

  分辨率  0.1μm(0μm-99.9μm)

  1μm(100μm-999μm)

  0.01mm(1.00mm-2.00mm)

  测量精度      ≤±(3%读数+2μm)

  单位      μm / mil

  测量间隔      0.5s

  测量区域      Ø = 25mm

  曲率半径      凸面:5mm 凹面:25mm

  基体厚度      Fe0.2mm/NFe0.05mm

  显示      128×48点阵LCD

  供电方式      2 1.5V AAA碱性电池

  工作温度范围     0 50

  存储温度范围     -20℃~60

  主机尺寸      101*62*28 mm

  探头尺寸      71*26*22 mm

  重量(含电池)      114g

  二、电涡流测量原理介绍

  高频沟通信号在测头线圈中发生电磁场,测头接近导体时,就在其间构成涡流来自www.xbaixing.com。测头离导电基体愈近,则涡流愈大,反射阻抗也愈大。

  与磁感应原理比较,首要区别是测头不同,信号的频率不同,信号的大小、标度联系不同x_b_a_i_x_i_n_g_c_o_m。与磁感应测厚仪相同,涡流测厚仪也达到了分辨率0.1um,容许过失1%,量程10mm的高水平。还有的便携式测厚仪采用的是超声波测厚的原理,不过这种测量原理的仪器测量精度不高小 百 姓 网


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